Optische Rasternahfeldmikroskopie

Das Prinzip der optischen Nahfeldmikroskopie (Scanning Near-field Optical Microscopy, SNOM) besteht darin, diese evaneszenten Anteile mit Hilfe einer angespitzen Glasfaser zu detektieren. Mittels Piezoaktuatoren wird das Nahfeld zeilenweise abgescannt; die Arbeitsdistanz wird über einen Regelkreis konstant gehalten. Diese Methode wird auch „collection-mode“ genannt. Die Auflösung hängt neben der Arbeitsdistanz auch vom Verrundungsradius der Glasfaser ab und liegt typischerweise bei 50nm.

Alternativ kann die Probe von einer Subwellenlängenapertur durchleuchtet werden. Die abgestrahlten evaneszenten Wellen induzieren in der Probe Dipole, die ihrerseits im Fernfeld detektierbare Dipolwellen abstrahlen. Die hohe laterale Auflösung bleibt dabei erhalten. Das in der Arbeitsgruppe vorhandene SNOM arbeitet im collection-mode und wird hauptsächlich zur Untersuchungen spezieller elektromagnetischer Oberflächenwellen („Oberflächenplasmonen“) eingesetzt.