DI MultiMode SPM

Das MultiMode-Rastersondenmikroskop (SPM) verfügt über die gesamte Reich-weite von Rasterkraft- und Rastertunneltechniken, um Oberflächeneigenschaften wie Topographie, Elastizität, Reibung, Adhäsion und magnetische/elektrische Felder untersuchen zu können. Die kurze mechanische Wegstrecke zwischen Spitze und Probe ermöglicht sehr hohe Scangeschwindigkeiten mit hoher Präzision. Des weiteren können verschiedene Scannertypen eingesetzt werden, um das Mikroskop an die jeweiligen Bedürfnisse anzupassen (Scanner mit hoher Scanweite bis zu 120 µm lateral und 6 µm vertikal, sowie hochauflösende Scanner mit 500 nm lateral und sub-µm vertikal). Das MultiMode-SPM findet in der Arbeitsgruppe aufgrund seiner Vielseitigkeit mehrere Anwendungen.

Hauptsächlich wird es für topographische Untersuchungen, magnetische Rasterkraftmikroskopie und HF-MFM eingesetzt. Mit Hilfe des SECPM - Scankopfes können auch elektrochemische AFM- und STM-Untersuchungen in situ durchgeführt werden. Als Controller stehen in der Arbeitsgruppe sowohl der Nanoscope IIIa als auch der neueste Nanoscope IV zur Verfügung. Studenten können sich im Rahmen des Fortgeschrittenenpraktikums mit dem MultiMode SPM Kenntnisse über die gängigen Rastersondenverfahren aneignen.