SIS UltraObjective

Das SIS UltraObjective erlaubt die Untersuchung einer Probe mittels Lichtmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie, wobei das Rasterkraftmikroskop als ein "Objektiv" im Objektivrevolver des Lichtmikroskops untergebracht ist. Durch eine genaue Justierung der Anlage ist eine exakte Positionierung des AFM-Cantilever an einer gewünschten Stelle der Probe möglich. An die Größe der Proben ist dabei keine Grenzen gesetzt, da diese auf einem beweglichen Mikrometertisch zu liegen kommen, der nach außen offen ist und im Prinzip jede Position anfahren kann. Als Messmodi im AFM-Modus stehen Contact, Non-Contact (optional) und Feldkontrast (optional) zur Verfügung. Die maximale Scanfeldgröße beträgt lateral etwa 20 x 20 µm², die maximale Änderung in z-Richtung beträgt 2 µm. Das SIS UltraObjective ist für Messungen bei normalen Umgebungsparametern (Raumtemperatur, 1013 hPa) gedacht.