Variable Temperature - UHV - AFM/STM

Das Variable Temperature - UHV - AFM/STM gestattet die Untersuchung von Proben in einem Temperaturbereich von 50 K - 1100 K, wobei die Kühlung der Proben durch flüssiges Helium erfolgt. Das Gerät ist so entworfen, dass sowohl AFM- als auch STM-Messungen mit dem Mikroskop durchgeführt werden können. Hierfür gestattet das Mikroskop den Spitzenwechsel im Vakuum, wobei normale Cantilever oder sogenannte Needle-Sensoren eingesetzt werden können. Das Vakuum der Hauptkammer liegt im Bereich von ungefähr 10^-10 mbar, der maximale Messbereich beträgt 15 x 15 µm². Die erreichbaren Auflösungen sind lateral von der Größenordnung von einigen Nanometern, während die Auflösung in z-Richtung ungefähr 10 pm beträgt. Zur Präparation der Proben steht eine Vorkammer mit verschiedenen Präparationsmöglichkeiten (Verdampfer, Ionen-Kanone) zur Verfügung.