ملخص

Ziel des vorliegenden Teilprojektes war es, die Morphologie und die elektronische Struktur sowohl von Au55-Clusterfestkörpern einerseits als auch von auf Substratmaterialien adsorbierten Au55-Clustern andererseits, zu charakterisieren. Im Gegensatz zu makroskopischen Untersuchungsverfahren, wie z.B. Impedanzspektroskopie oder Röntgenstreuung, die über ein größeres Probenvolumen mittelnde Verfahren sind, wurden im vorliegenden Teilprojekt im wesentlichen Rastersondenverfahren, wie Rastertunnelmikroskopie/-spektroskopie (scanning tunneling microscopy/spectroscopy, STM/STS) und Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM), eingesetzt. Ein wichtiger Vorteil dieser Verfahren liegt darin, sehr lokal zu sein und sowohl eine hohe Ortsauflösung bis in den atomaren Bereich (Å-Bereich) als auch eine hohe Energieauflösung (meV-Bereich) zu besitzen. Die Untersuchungen können dabei unter verschiedenen Umgebungsbedingungen, wie z.B. unter Atmosphärendruck, im (Ultra-)Hochvakuum [(U)HV] oder unter Flüssigkeiten sowie bei tiefen und hohen Temperaturen, durchgeführt werden. Dadurch werden eine Vielzahl von experimentellen Untersuchungen möglich.