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Ziel des vorliegenden Teilprojektes war es, die
Morphologie und die elektronische Struktur sowohl von
Au55-Clusterfestkörpern einerseits als auch von auf Substratmaterialien
adsorbierten Au55-Clustern andererseits, zu charakterisieren. Im
Gegensatz zu makroskopischen Untersuchungsverfahren, wie z.B.
Impedanzspektroskopie oder Röntgenstreuung, die über ein größeres
Probenvolumen mittelnde Verfahren sind, wurden im vorliegenden
Teilprojekt im wesentlichen Rastersondenverfahren, wie
Rastertunnelmikroskopie/-spektroskopie (scanning tunneling microscopy/spectroscopy,
STM/STS) und Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM),
eingesetzt. Ein wichtiger Vorteil dieser Verfahren liegt darin, sehr
lokal zu sein und sowohl eine hohe Ortsauflösung bis in den atomaren
Bereich (Å-Bereich) als auch eine hohe Energieauflösung (meV-Bereich) zu
besitzen. Die Untersuchungen können dabei unter verschiedenen
Umgebungsbedingungen, wie z.B. unter Atmosphärendruck, im
(Ultra-)Hochvakuum [(U)HV] oder unter Flüssigkeiten sowie bei tiefen und
hohen Temperaturen, durchgeführt werden. Dadurch werden eine Vielzahl
von experimentellen Untersuchungen möglich. |
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