SNOM (Eigenbau)

Die in unserer Arbeitsgruppe betriebenen SNOM wurden aus Komponenten kommerzieller Rastermikroskope (TopoMetrix Explorer und Aurora) vollständig neu aufgebaut. Dabei wurden Geräte mit variableren Anwendungsmodi konzipiert. Es kann dabei in dem sogenannte „Collection“- sowie im „Illumination“-Modus gemessen werden. Eben so besteht die Möglichkeit die Spitze oder die Probe zu scannen (bewegte Proben, Messung lokaler optischer Eigenschaften der Probe). Als Sonden kommen sowohl metallbedampfte als auch nackte ausgezogene Glasfasern zum Einsatz. Ebenfalls wird mit speziell modifizierten Sonden (Kohlenstoff-abscheidungen durch Elektronenstahl oder FIB-modifizierten Sonden) experimen-tiert. Die Sonden werden können durch eine Abstandreglung, die auf der Resonanz-verstimmung einer Quarzgabel basiert auf konstanter Höhe gehalten werden.

Das in die Faser eingestreute sowie das von der Faser ausgesandte Licht kann auf spektrale Verteilung und Polarisation untersucht werden. Der Einsatz von auf APD (Avalange Photodioden) basierenden Einzelphotonenzählern erschließt dabei einen Intensitätsbereich hinunter bis zu 100 Photonen pro Sekunde. Im Aufbau ist z.Z. ein System mit einem gepulsten Laser, welches die Untersuchung von nichtlinearen optische Effekten ermöglicht.