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Enseignement |
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Récapitulation des Cours Special Topics in Nanotechnology, WS 2005/2006 |
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29.11.05 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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charakteristische Längenskalen, zu analysierende Formen den Materie, Analytik versus Mikroskopie, Manipulation |
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30.11.05 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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Analytische Herausforderungen in der Nanotechnologie, Grundlagen der Analytik, Grundlagen der Mikroskopie, Oberflächen, Vorläufer der Rastersondenmikroskope |
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06.12.05 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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Piezoelektrische Aktoren, Verfahren zur Bestimmung kleiner Längenänderungen, Regelkreise, Rasterantriebe |
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07.12.05 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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elektronische Zustandsdichte, Vakuumtunneln von Elektronen, Näherungen, charakteristische Abhängigkeiten des Tunnelstroms, Auflösung des Rastertunnelmikroskops |
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20.12.05 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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Konstantstrom-Modus, Modus konstanter Höhe, Bauform des STM, Rastertunnelspektroskopie, Einzelelektronentunneln an Clustern |
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21.12.05 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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elektronische Oberflächenwellen, Abbildung von Vortices in Supraleitern, spinpolarisierte Rastertunnelspektroskopie, Rastertunnelmikroskopie unter komplexen Umgebungsbedingungen, Fazit zur Rastertunnelmikroskopie |
