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Enseignement |
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Récapitulation des Cours Special Topics in Nanotechnology, WS 2005/2006 |
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10.01.06 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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Aufbau eines Rasterkraftmikroskops, Beschaffenheit der Sonde, Auslenkungsdetektion, Faserinterferometer, Lichtzeigerprinzip |
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11.01.06 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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Auflösung des Rasterkraftmikroskops, Einfluss des thermischen Rauschens, statische mechanische Eigenschaften des Biegelementes |
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17.01.06 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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dynamische Eigenschaften des Biegeelementes,
Theorie des einseitig eingespannten, zu Schwingungen angeregten Balkens |
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18.01.06 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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dynamische Rasterkraftmikroskopie, Tapping-Mode,
Adhäsionskraftmikroskopie, Einzelmolekül-mechanik, magnetische
Rasterkraftmikroskopie (MFM), elektrische Rasterkraftmikroskopie und
Ladungskraftmikroskopie (EFM), magnetische Resonanzkraftmikroskopie |
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24.01.06 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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optische Rasternahfeldmikroskopie, Grundlagen,
Beleuchtungs- und Detektionsmodi, Kraft-Abstands-Regelung,
auflösungsbegrenzende Faktoren, Magnetooptik, Fluoreszenz-mikroskopie |
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25.01.06 |
Schlüsselthema Rastersondenverfahren |
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Nanomanipulationen, atomare Manipulation mit dem STM, Manipulation
unter elektrochemischen Bedingungen, Manipulation mit dem AFM, Messung
nanomechanischer Eigenschaften, industrielle Analytik und
Qualitätssicherung, zukünftige Perspektiven |
