10.01.06

Aufbau eines Rasterkraftmikroskops, Beschaffenheit der Sonde, Auslenkungsdetektion, Faserinterferometer, Lichtzeigerprinzip

11.01.06

Auflösung des Rasterkraftmikroskops, Einfluss des thermischen Rauschens, statische mechanische Eigenschaften des Biegelementes

dynamische Eigenschaften des Biegeelementes, Theorie des einseitig eingespannten, zu Schwingungen angeregten Balkens

dynamische Rasterkraftmikroskopie, Tapping-Mode, Adhäsionskraftmikroskopie, Einzelmolekül-mechanik, magnetische Rasterkraftmikroskopie (MFM), elektrische Rasterkraftmikroskopie und Ladungskraftmikroskopie (EFM), magnetische Resonanzkraftmikroskopie

optische Rasternahfeldmikroskopie, Grundlagen, Beleuchtungs- und Detektionsmodi, Kraft-Abstands-Regelung, auflösungsbegrenzende Faktoren, Magnetooptik, Fluoreszenz-mikroskopie

Nanomanipulationen, atomare Manipulation mit dem STM, Manipulation unter elektrochemischen Bedingungen, Manipulation mit dem AFM, Messung nanomechanischer Eigenschaften, industrielle Analytik und Qualitätssicherung, zukünftige Perspektiven