Hartmann 教授课题组

纳米结构研究 和 纳米技术

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教学

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课程大纲 Special Topics in Nanotechnology, WS 2005/2006

10.01.06

Schlüsselthema Rastersondenverfahren

 

Aufbau eines Rasterkraftmikroskops, Beschaffenheit der Sonde, Auslenkungsdetektion, Faserinterferometer, Lichtzeigerprinzip

11.01.06

Schlüsselthema Rastersondenverfahren

 

Auflösung des Rasterkraftmikroskops, Einfluss des thermischen Rauschens, statische mechanische Eigenschaften des Biegelementes

17.01.06 Schlüsselthema Rastersondenverfahren

 

dynamische Eigenschaften des Biegeelementes, Theorie des einseitig eingespannten, zu Schwingungen angeregten Balkens

18.01.06 Schlüsselthema Rastersondenverfahren

 

dynamische Rasterkraftmikroskopie, Tapping-Mode, Adhäsionskraftmikroskopie, Einzelmolekül-mechanik, magnetische Rasterkraftmikroskopie (MFM), elektrische Rasterkraftmikroskopie und Ladungskraftmikroskopie (EFM), magnetische Resonanzkraftmikroskopie

24.01.06 Schlüsselthema Rastersondenverfahren

 

optische Rasternahfeldmikroskopie, Grundlagen, Beleuchtungs- und Detektionsmodi, Kraft-Abstands-Regelung, auflösungsbegrenzende Faktoren, Magnetooptik, Fluoreszenz-mikroskopie

25.01.06 Schlüsselthema Rastersondenverfahren

 

Nanomanipulationen, atomare Manipulation mit dem STM, Manipulation unter elektrochemischen Bedingungen, Manipulation mit dem AFM, Messung nanomechanischer Eigenschaften, industrielle Analytik und Qualitätssicherung, zukünftige Perspektiven

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28.02.2006